X射線衍射儀技術(XRD)注意事項:
(1)固體樣品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必須平整,可以用幾塊粘貼一起。
(2)對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向,衍射強度異常,需提供測試方向。
(3)對于測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變),測量殘余奧氏體,要求制備成金相樣品,并進行普通拋光或電解拋光,消除表面應變層。
(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,重量大于5g。
上一篇:納米顆粒追蹤表征的工作原理
掃一掃,加微信
版權所有 © 2024北京來亨科學儀器有限公司
備案號:京ICP備2024080360號-1
技術支持:化工儀器網 管理登陸 sitemap.xml